Современный этап развития приборостроения характеризуется широким применением в составе средств измерений вычислительных устройств, построенных на базе микропроцессоров — микропроцессорных систем. Применением таких систем в измерительных устройствах достигают двух целей: расширяют функции измерительных устройств и улучшают их характеристики.
Использование микропроцессорных систем (МПС) в средствах электрических измерений позволяет по-новому подойти к их компоновке и алгоритмам функционирования, увеличить информационные возможности, повысить точность, надежность и быстродействие.
В области технологических измерений ведется поиск рациональных решений и разработка измерительных устройств со встроенными МПС.
В общем случае включение МПС в состав измерительных устройств позволяет решить такие основные задачи, как:
вычисление по формулам (в том числе линеаризация, масштабирование, обработка результатов косвенных или совокупных измерений и т. п.);
вычисление по заданному алгоритму;
статистическая обработка;
анализ параметра (на максимум, минимум и т. п.);
корректировка статической характеристики (на основе методов повышения точности измерительных устройств);
автоматическая самоградуировка и самоповерка (в частности, восстановление коэффициента преобразования и корректировка нулевого уровня сигнала);
связь с системой, к которой подключено измерительное устройство;
самодиагностика;
управление измерениями;
стабилизация или программное регулирование режимных параметров измерительного устройства.
Однако включение МПС в состав измерительных устройств наряду с сообщением им несомненно новых положительных качеств приводит к существенному усложнению этих устройств. По сложности измерительные устройства со встроенной МПС близки к измерительным системам, включающим микроЭВМ.
Все необходимые измерения вспомогательных и режимных параметров осуществляются блоком измерения параметров аналитических устройств БИП, который коммутируется с блоком ЭК. Сигналы, необходимые для управления работой этих устройств, и стабилизация их режимных параметров вырабатываются МПС и поступают к аналитическим устройствам через УФУВ. В табл. 14.1 приведены технологические параметры, для которых уже сейчас созданы измерительные устройства со встроенными микропроцессорными системами.