Время переключения определяется профилем накопления неосновных носителей в диоде. Расположенные под кривыми, характеризуют запасенную энергию.
На основании этих кривых можно заключить, что диод, получающийся, если использовать в качестве катода эмиттер, а в качестве анода — соединенные вместе коллектор и базу, будет иметь наименьшее время переключения; диод, использующий в качестве катода соединенные вместе эмиттер и коллектор, а в качестве анода — базу, будет, с точки зрения быстродействия, наихудшим.
При этом типичный диапазон получающихся времен переключения составит от 10 до 100 нсек.
Применение легирования золотом может уменьшить время переключения до нескольких наносекунд.
В интегральных схемах очень часто возникает необходимость одновременного получения как быстрых, так и медленных диодов в одной кремниевой пластинке, что может быть достигнуто путем использования соответствующим образом соединенной транзисторной структуры.
Напряжение пробоя интегральных диодов определяется концентрацией примесей и уменьшается по мере увеличения. Наименьшее напряжение пробой, доходящее всего до 6 в, получается в эмиттернобазовом переходе, а наибольшее (до 100 б) в переходе коллектор — подложка.
Величина тока утечки сильно зависит от температуры и от степени легирования золотом.
Легирование золотом улучшает время переключения, но одновременно вызывает увеличение тока утечки.